首页 >  TR-9200焦炉煤气氧分析系统(电化学、磁氧、激光)TR-9200
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WPM2005-8/TR

集成电路IC

会员年限:13年

13836

1+ 面议

KTD257EAD-TR

集成电路IC

会员年限:13年

2301

1+ 面议

KTD265EJH-TR

集成电路IC

会员年限:13年

3020

1+ 面议

SGM44599YTQ16/TR

集成电路IC

会员年限:13年

6087

1+ 面议

SGM2022-AYN6/TR

集成电路IC

会员年限:13年

6024

1+ 面议

SGM2019-2.8YN5G/TR

集成电路IC

会员年限:13年

12814

1+ 面议

SGM2019-3.3YC5G/TR

集成电路IC

会员年限:13年

1480

1+ 面议

SGM708-SYS8G/TR

集成电路IC

会员年限:13年

10000

1+ 面议

SP3232EEY-L/TR

集成电路IC

会员年限:13年

1000

1+ 面议

SP6686ER-L/TR

集成电路IC

会员年限:13年

10062

1+ 面议

USB3318C-CP-TR

集成电路IC

会员年限:13年

5173

1+ 面议

SP3232EUEA-L/TR 热卖

集成电路IC

封装: SSOP 批号: 18+

会员年限:13年

SIPEX

100

1+ ¥4.00

MSM-7627A-0-576NSP-TR-01-...

集成电路IC

会员年限:13年

4001

1+ 面议

自动刷卡测试系统CTG-SATD 优势

电子产品试验设备

功能概述CTG1-SA设备是一种自动测试机械手,可以用于接触式智能卡产品的热拔插测试,和非接卡/读卡器的自动刷卡,并提供了对应测试的上位机软件产品特点:1.支持单路接触式智能卡自动热拔插2.支持单路接触式智能卡自动热拔插3.支持单路非接触式智能卡自动刷卡测试4.支持随意更换读卡器,提供工具进行读卡器固定5.支持TCL脚本语言编程,6.运动距离20cm,速率180次/分钟7.精确定位智能卡位置,误差+/-0.5mm8.8位液晶模块自动记录卡片运动次数,配备手动清零按键9.支持PCSC读卡设备接口操作智能卡控制编程

会员年限:13年

csc

99

1+ 面议

非接卡自动测试系统CTG4 优势

电子产品试验设备

该产品为非接触卡和读写设备提供一种4轴可精准定位、自动化的测试平台,可通过编写测试脚本的方式,实现高精度的读写距离测试,兼容性测试,重复性测试等产品特性:1.4轴精确定位(±1mm),X,Y,Z为直线运动模组,U轴为旋转模组2.机械手采用非金属材料设计,有效减少电磁干扰3.友好的人机界面,客户可自行编写测试脚本进行测试和调试4.通信接口:USB接口,网口5.有效测试行程:X轴、Y轴、Z轴不小于±150mm,U轴0°~360°6.有效干扰防护距离:X轴、Y轴、Z轴、U轴均不小于±100mm7.运动速度:X轴、Y轴、Z轴均不小于400mm/s,且在0~400mm/s范围内可设置8.卡片转动角度:U轴旋转0~360度,精度±1度功能说明:本产品针对非接触式智能卡的性能测试,提供的一种测试平台。该测试平台可通过上位机软件自动控制机械平台的运动,使智能卡与读卡器天线处于不同相对位置(XYZ,以及360度旋转角度),测试不同相对位置下的通信,并读取测试结果该测试平台主要包括自动机械手和软件控制系统两部分:1.自动机械手可完成XYZU四个轴向精确的机械运动2.软件控制系统则根据具体需求灵活的对自动机械手的各种动作进行控制和监控软件说明:采用CSC自主开发的STP1001软件平台,包括主界面、调试界面和后台文件;也可提供开发包,供客户自行开发人机界面

会员年限:13年

csc

99

1+ 面议

AD9200

集成电路IC

会员年限:13年

ADI

1000

1+ 面议

AD9200

集成电路IC

会员年限:13年

ADI

1000

1+ 面议

AD9211-200

集成电路IC

会员年限:13年

ADI

1000

1+ 面议

AD9211-200

集成电路IC

会员年限:13年

ADI

1000

1+ 面议

供应可靠性测试系统-Flash芯片256路同测FTG16 优势

高低温箱

本产品一种通用的功能测试(FTG)系统,针对于EEPROM、Flash等产品的功能验证和可靠性测试,提供了一种友好的人机界面和快捷方便的测试分析工具。同时可应用于通用芯片或者电路板级产品的功能测试。产品特性l 软件界面管理测试用例/底层协议,无需学习ARM/FPGA编程,可在线调试和升级;l 测试脚本可LOAD到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;l 支持256路Flash高低温同测;l 单板64个数字IO通道,2路模拟输入通道,2个可调电源,1个可调时钟;l 电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;;l 测试时钟可编程,最高20MHz;l 存储容量4GB,支持循环命令,支持连续LOAD测试脚本;l 含512条错误存储空间;l 独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;l USB接口与PC机通信

会员年限:13年

999

1+ 面议

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