供应可靠性测试系统-Flash芯片256路同测FTG16 优势

高低温箱

本产品一种通用的功能测试(FTG)系统,针对于EEPROM、Flash等产品的功能验证和可靠性测试,提供了一种友好的人机界面和快捷方便的测试分析工具。同时可应用于通用芯片或者电路板级产品的功能测试。产品特性l 软件界面管理测试用例/底层协议,无需学习ARM/FPGA编程,可在线调试和升级;l 测试脚本可LOAD到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;l 支持256路Flash高低温同测;l 单板64个数字IO通道,2路模拟输入通道,2个可调电源,1个可调时钟;l 电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;;l 测试时钟可编程,最高20MHz;l 存储容量4GB,支持循环命令,支持连续LOAD测试脚本;l 含512条错误存储空间;l 独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;l USB接口与PC机通信